晶体管和有键合引线二极管 内部目检检测 百检网

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1 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.3 X射线检查

2 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.8 内部目检

3 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.11 剪切强度

4 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.2 外部目检

5 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.6 密封

6 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.10 扫描电子显微镜（SEM）检查

7 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.5 粒子碰撞噪声检测（PIND）

8 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.9 键合强度

9 军用电子元器件破坏性物理分析方法 扫描电子显微镜（SEM）检查