金属膜固定电阻器制样镜检测试百检网

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1 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 外部目检

2 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 内部目检

3 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 制样镜检

4 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD-1580B-2014 要求18.3 外部目检

5 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD-1580B-2014 要求18.3 内部目检

6 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD-1580B-2014 要求18.3 制样镜检

7 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 2.4条内部目检

8 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 2.5条制样镜检

9 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 2.2条外部目检

10 有质量等级的薄膜固定电阻器总规范 GJB 244A-2001 4.8.5 直流电阻

11 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0101 内部目检