整流二极管击穿电压检测其他检测报告

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1 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB∕T 4023-2015 7.1.4 反向电流反向电流

2 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB∕T 4023-2015 7.1.2 正向电压正向电压

3 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 4066 浪涌电流

4 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB∕T 4023-2015 7.2.2 热阻与瞬态热阻抗热阻

5 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1038 老炼

6 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1031 高温寿命（非工作）

7 半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.3 击穿电压V（BR）

8 半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4 反向电流IR

9 半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4 反向电流IR

10 半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2 正向电压VF

11 半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2 正向电压VF

12 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023－2015 7.1.4 反向电流